耐候性試驗(yàn)
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18566398802GB/T 2423.17-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)的鹽霧試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于考核材料及其防護(hù)層的抗鹽霧腐蝕的能力,以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較,也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于作為通用的腐蝕試驗(yàn)方法。用于制造試驗(yàn)設(shè)備的材料必須耐鹽霧腐蝕和不影響試驗(yàn)結(jié)果。試驗(yàn)設(shè)備中工作空間的條件應(yīng)該保持在本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限度之內(nèi),有足夠大的容積,并能提供均勻的試驗(yàn)條件,且試驗(yàn)時這些條件不受試驗(yàn)樣品的影響。鹽霧不得直接噴射到試驗(yàn)樣品上。
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Q-FOG CRH1100 馬上詢價Q-FOG CRH600比起SSP/CCT鹽霧試驗(yàn)箱增加了一個可調(diào)濕度控制功能,這意味著CRH鹽霧試驗(yàn)箱具備更廣泛的標(biāo)準(zhǔn)適用范圍。
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